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超宽窗口型X射线检测机
超宽窗口TXR-G系列
专为烘焙行业与特宽产线设计，实现宽幅产品和多列并排产品检测全覆盖，无检测盲区，高效识别金属、玻璃、石子等各类杂质。并同步识别缺损、形状异常等缺陷。搭载太易自主研发AI大模型算法，在大幅提升检测效果的同时，有效降低误判、误检率。设备采用高卫生等级、高防护结构设计，清洁与维护更加便捷高效。
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专为烘焙行业与特宽产线设计。
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